TH2851-130阻抗測(cè)試儀/阻抗分析儀簡(jiǎn)介:

TH2851系列阻抗分析儀是常州同惠電子采用當(dāng)前自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測(cè)試儀器，為國(guó)產(chǎn)阻抗測(cè)試儀器的最新高度。基于Windows10操作系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了全電腦化操作界面，讓測(cè)試更智能、更簡(jiǎn)便。

TH2851系列阻抗分析儀也超越了國(guó)外同類儀器120MHz的頻率瓶頸；解決了國(guó)外同類儀器只能分析、無法單獨(dú)測(cè)試的缺陷；中英文操作界面也解決了國(guó)外儀器僅有英文界面的尷尬；采用單測(cè)和分析兩種界面，讓測(cè)試更簡(jiǎn)單。

快達(dá)2.5ms的測(cè)試速度、及高達(dá)40MΩ的阻抗測(cè)試范圍可以滿足元件與材料的測(cè)量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測(cè)量。四端對(duì)的端口配置方式可有效消除測(cè)試線電磁耦合的影響，將低阻抗測(cè)試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。

TH2851系列阻抗分析儀包括以下幾種類型：

性能特點(diǎn)

■ 測(cè)試頻率：10Hz-130MHz

■ 基本阻抗精度：0.08%，典型值≤±0.045%

■ 高精度：采用自動(dòng)平衡電橋技術(shù)，四端對(duì)測(cè)試配置

■ 高穩(wěn)定性和一致性

■ 高速度：最快達(dá)2.5ms的測(cè)試速度

■ 高分辨：10.1英寸電容式觸摸屏，分辨率1280*800

■ 點(diǎn)測(cè)、列表掃描、圖形掃描、等效電路、晶體振蕩器分析五種測(cè)試方式

■ 1601點(diǎn)多參數(shù)列表掃描功能

■ 四參數(shù)測(cè)量

■ 自動(dòng)電平控制（ALC）功能

■ 4通道圖形掃描功能，每通道可顯示4條曲線，通道和曲線有

14種分屏顯示方式

■ 分析功能：等效電路分析、晶體振蕩器分析、壓電分析、

曲線軌跡對(duì)比、介電常數(shù)分析（選件）、磁導(dǎo)率分析（選件）

■ 強(qiáng)大的分選：LCR模式10檔分選

■ 圖形掃描模式每條曲線單獨(dú)分選，頻率分段掃描并分選

■ 高兼容性：支持SCPI指令集，兼容KEYSIGHT E4990A、

E4980A、E4980AL、HP4284A

應(yīng)用

■ 無源元件：

電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評(píng)估和性能分析。

■ 半導(dǎo)體元件：

LED驅(qū)動(dòng)集成電路寄生參數(shù)測(cè)試分析；變?nèi)荻O管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析

■ 其它元件：

印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等阻抗評(píng)估

■ 介質(zhì)材料：

塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評(píng)估

■ 磁性材料：

鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評(píng)估

■ 半導(dǎo)體材料：

半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性

■ 液晶單元：

介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性

• 技術(shù)參數(shù)

• 產(chǎn)品型號(hào)		TH2851-015	TH2851-030	TH2851-050	TH2851-080	TH2851-130
  顯示		10.1英寸TFT LCD顯示器1280×RGB×800，電容式觸摸屏
  AC測(cè)量參數(shù)		Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、復(fù)數(shù)Z、|Z|、復(fù)數(shù)Y、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、VAC、IAC
  DC測(cè)量參數(shù)		VDC、IDC、DCR
  測(cè)試頻率	范圍	10Hz - 15MHz	10Hz - 30MHz	10Hz - 50MHz	10Hz - 80MHz	10Hz - 130MHz
  	最高分辨率	1mHz
  	頻率相對(duì)誤差	≤±0.0007%
  測(cè)試電平	AC電壓	5mV - 2Vrms
  	分辨率	1mV
  	AC電流	50μA - 20mArms
  	分辨率	10μA
  DC偏置	電壓	0V - ±40V
  	電壓分辨率	1mV
  	電流	0mA - ±100mA
  	電流分辨率	40μA
  測(cè)試端配置		四端對(duì)
  輸出阻抗		25Ω/100Ω
  典型測(cè)量時(shí)間（速度）		五檔：1(快速) - 5(精確) 1:2.5ms       2:10ms     3:40ms     4:80ms      5:400ms （不包括通訊時(shí)間的算數(shù)平均值，每個(gè)頻率測(cè)試速度會(huì)略有不同）
  最高準(zhǔn)確度		1kHz：0.08% 1MHz：0.08% 2MHz：0.5% 10MHz：1% 130MHz：5.0%
  測(cè)量顯示范圍		a   1×10-18；  E   1×1018
  Cs、Cp		±1.00000   aF - 999.999 EF
  Ls、Lp		±1.00000   aH - 999.999 EH
  D		±0.00001   - 9.99999
  Q		±0.01   - 9999.99
  R、Rs、Rp、X、Z		±1.00000   aΩ - 999.999 EΩ
  G、B、Y		±1.   00000 aS -  999.999 ES
  Vdc		±1.00000   aV - 999.999 EV
  Idc		±1.00000   aA - 999.999 EA
  θr		±1.00000   a rad - 3.14159 rad
  θd		±0.0001   deg - 180.000 deg
  Δ%		±0.0001%   - 999.999%
  多功能參數(shù)列表掃描		1601點(diǎn)，每個(gè)點(diǎn)可設(shè)置平均數(shù)，每個(gè)點(diǎn)可單獨(dú)分選 掃描參數(shù)：測(cè)量參數(shù)、測(cè)試頻率、AC電壓、AC電流、DC BIAS電壓、DC BIAS電流
  圖形掃描	參數(shù)	頻率、ACV、ACI、DCV、DCI
  	類型	對(duì)數(shù)、線性、頻率分段
  	點(diǎn)數(shù)	2-1601
  	通道數(shù)	4
  	曲線數(shù)	4條/通道
  	分屏顯示	16種（通道和曲線）
  等效電路分析		3元件模型：4個(gè)、4元件模型：3個(gè)
  晶體振蕩器分析		有
  曲線軌跡比對(duì)		有
  分選		LCR模式10檔分選；掃描模式每條曲線單獨(dú)分選
  接口		RS232C，USB   HOST、USB   DEVICE、LAN、GPIB、HANDLER、VGA、HDMI
  開機(jī)預(yù)熱時(shí)間		60分鐘
  輸入電壓		100-120VAC/198-242VAC可選擇，47-63Hz
  功耗		最大150VA
  尺寸（WxHxD）mm3		428x220x325
  重量		14.5kg

  
  

• 附件

標(biāo)配
配件名稱	型號(hào)
夾具	TH26047
四端帶卡夾具	TH26005D
100Ω標(biāo)準(zhǔn)電阻	TH26082A
短路片	TH26010
TH2851校準(zhǔn)套件	TH2851校準(zhǔn)套件

選配
配件名稱	型號(hào)
磁環(huán)夾具(片式)	TH26007A
磁環(huán)夾具	TH26008A
帶盒貼片測(cè)試線	TH26009B
夾具	TH26048
測(cè)試夾具	TH26062A
測(cè)試夾具	TH26063
高頻貼片夾具	TH26108C
電介質(zhì)測(cè)試夾具	TH26077
TH2851-7mm夾具	TH26086
TH2851磁導(dǎo)率測(cè)試夾具	TH26088
TH2851-7mm夾具-校準(zhǔn)套件	TH26086-CAL

• A.  高精度

      寬帶自動(dòng)調(diào)零型自動(dòng)平衡電橋技術(shù)的應(yīng)用，得以在10Hz-130MHz頻率、25mΩ-40MΩ的阻抗范圍內(nèi)都能達(dá)到理想的10%測(cè)量精度，其中最高精度達(dá)0.08%，遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于射頻反射測(cè)量法的阻抗分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀的精度。

  

  B.  高穩(wěn)定性和高一致性

       下圖是在速度5、測(cè)試頻率1MHz，測(cè)量100Ω電阻的曲線，由下圖可見其軌跡噪聲≦0.003%（≦±0.0015Ω）

       

  C.  高速度

  

  D. 10.1寸大屏，四種測(cè)量參數(shù)，讓細(xì)節(jié)一覽無遺

       10.1寸觸摸屏、1280*800分辨率，Windows10系統(tǒng)、中英文操作界面，支持鍵盤、鼠標(biāo)、LAN、VGA/HDMI接口，帶來的是無以倫比的操作便捷性。

       大屏幕帶來更多的好處是，可以把所有測(cè)試參數(shù)及分選參數(shù)、分選結(jié)果、功能選擇等參數(shù)放置在同一屏幕，而且看起來絕不擁擠和雜亂，同時(shí)可以顯示四種測(cè)量參數(shù)，四種測(cè)量參數(shù)任意可調(diào)。屏幕左邊的按鈕可以快捷選擇8套測(cè)試參數(shù)
  

           

  E.  增強(qiáng)的列表掃描功能
  

       可以最多設(shè)置1601點(diǎn)的列表掃描，每個(gè)點(diǎn)可以單獨(dú)設(shè)置測(cè)試頻率、測(cè)試電壓、直流偏置等測(cè)試條件。

  

  F.  強(qiáng)大的分析圖形界面

  最多可以4通道同時(shí)顯示，每個(gè)通道可以最多顯示4條曲線。通道和曲線各有十四種分屏顯示方法

  

  通道	顯示窗口	單個(gè)窗口可以設(shè)置不同掃描條件 每個(gè)窗口可以設(shè)置4條曲線
  曲線	測(cè)量參數(shù)

  G.  分段掃描功能

        分段掃描是在一個(gè)掃描周期內(nèi)，設(shè)置不同的頻率分段進(jìn)行掃描，掃描時(shí)可設(shè)置不同的電平及偏置，掃描結(jié)果直接圖形顯示，用于需要快速篩選多個(gè)頻率段參數(shù)的掃描需求。

     如晶體諧振器需要測(cè)試標(biāo)稱諧振/抗諧振頻率以及其他雜散頻率，通過分段掃描功能可在特定頻率范圍內(nèi)掃描測(cè)量，無需掃描不相關(guān)頻率

  

  H.  強(qiáng)大的光標(biāo)分析能力

  TH2851系列精密阻抗分析儀具有強(qiáng)大的光標(biāo)分析能力，可以通過光標(biāo)實(shí)現(xiàn)如下功能：

  1. 讀取測(cè)量結(jié)果的數(shù)值（作為絕對(duì)數(shù)值或者相對(duì)于參考點(diǎn)的相對(duì)值）

  2. 查找曲線上的特定點(diǎn)（光標(biāo)查找）

  3. 分析曲線測(cè)量結(jié)果，計(jì)算統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)

  4. 使用光標(biāo)值修改掃描范圍以及縱坐標(biāo)縮放

  TH2851 可以在每條曲線上顯示10個(gè)光標(biāo)，包括了參考光標(biāo)。

  每個(gè)光標(biāo)有一個(gè)激勵(lì)值（坐標(biāo)系X軸對(duì)應(yīng)的數(shù)值）和響應(yīng)值（坐標(biāo)系Y軸對(duì)應(yīng)的數(shù)值）。

  光標(biāo)查找功能允許搜索下列條件測(cè)量點(diǎn)：

  
  

  	最大值、最小值
  峰谷值：	峰值（極大值）、谷值（極小值）、光標(biāo)左側(cè)最近的峰谷值、光標(biāo)右側(cè)最近的峰谷值、多重峰谷值
  目標(biāo)值：	距離光標(biāo)最近的目標(biāo)值、光標(biāo)左側(cè)最近的目標(biāo)值、光標(biāo)右側(cè)最近的目標(biāo)值、多重目標(biāo)值

  

  I.  強(qiáng)大的圖形分析功能

  1）    曲線分選功能

           可以對(duì)掃描曲線全部或者部分區(qū)域的測(cè)試值進(jìn)行合格/不合格判斷，常用于諧振曲線篩選如壓電元件等諧振頻率。

  

  2）    等效電路分析測(cè)試

      現(xiàn)實(shí)生活中不同類型的器件可以被等效成簡(jiǎn)單的三參數(shù)四種模型、四參數(shù)三種模型的阻抗器件，等效電路分析測(cè)試功能提供了7種基本的電路模型用于等效 這些器件。

          可以通過仿真的等效電路參數(shù)值的阻抗擬合曲線與實(shí)際測(cè)量的阻抗曲線進(jìn)行對(duì)比，還可以通過您輸入的參數(shù)按照所選擇的模型進(jìn)行擬合。

      等效的電路模型可以直接輸出成TXT文檔方便用戶保存使用

  

  

  3）    晶體振蕩器分析（壓電器件分析）

           對(duì)晶體振蕩器進(jìn)行測(cè)量以及性能分析，測(cè)量計(jì)算后獲取晶體的諧振頻率、反諧振頻率、品質(zhì)因數(shù)等重要參數(shù)。

       同時(shí)，對(duì)于其他壓電器件如壓電陶瓷濾波器、壓電陶瓷陷波器、壓電陶瓷鑒頻器、壓電陶瓷變壓器、大功率超聲波發(fā)生器、換能器（振子）、聲表面波器件、電聲器件等都可以測(cè)試如靜態(tài)電容、損耗、諧振頻率、反諧振頻率、機(jī)械耦合系數(shù)等參數(shù)。

  

  4）    曲線軌跡對(duì)比

  
  

  曲線軌跡對(duì)比用于對(duì)被測(cè)件進(jìn)行連續(xù)測(cè)量，所有曲線顯示在同一個(gè)坐標(biāo)系中。由下列兩種應(yīng)用：
  

  a)    針對(duì)多種不同被測(cè)件

        對(duì)比不同測(cè)量條件下的曲線軌跡

        設(shè)置不同的頻率點(diǎn)，計(jì)算出所有曲線在該頻率點(diǎn)的測(cè)量值

  b)    針對(duì)同一個(gè)被測(cè)件

        對(duì)比同一個(gè)條件下測(cè)量的多次測(cè)量結(jié)果重復(fù)性

        設(shè)置不同頻率點(diǎn)，計(jì)算出所有曲線在該頻率點(diǎn)的測(cè)量值

  

  J.  介電常數(shù)分析（選件）

       TH2851系列精密阻抗分析儀支持介質(zhì)材料介電常數(shù)、介質(zhì)損耗分析，需選購(gòu)測(cè)試夾具及分析軟件。

  1. 配置

  序號(hào)	型號(hào)	名稱	必選項(xiàng)
  1	TH2851_***	阻抗分析儀主機(jī)	R
  2	TH26077	介質(zhì)材料測(cè)試夾具	R
  3	TH2851	介電常數(shù)測(cè)試軟件	R

  
  

  2. TH26077介質(zhì)材料測(cè)試夾具

      TH26077電介質(zhì)材料測(cè)試夾具是設(shè)計(jì)在TH2851上進(jìn)行準(zhǔn)確的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)量的夾具。通過使用平行板方法測(cè)量固態(tài)材料的介電常數(shù)，從而消除離散電容。

  1） 外形結(jié)構(gòu)

  

  2） 基本參數(shù)

  測(cè)試頻率	DC-30MHz
  測(cè)量參數(shù)	電容（C）、耗損因數(shù)（D）、介電常數(shù)（εr', εr''）
  測(cè)試電極	電極種類	被測(cè)材料直徑	被測(cè)材料厚度
  	屏蔽電極A1	40mm - 56mm	≤10mm
  	屏蔽電極A2	10mm - 56mm	≤10mm
  測(cè)試原理	平行板測(cè)量法
  清零	開路、短路

  3） 測(cè)試原理

  

  
  

  4） 介電常數(shù)公式
  

  

  3.   介電常數(shù)分析軟件

   該軟件為選件，開通后在TH2851界面直接選擇對(duì)應(yīng)的參數(shù)即可，分別可以單測(cè)、列表掃描、曲線掃描，下圖為曲線掃描界面。

  

  K.  磁導(dǎo)率分析
  

  
  

        TH2851支持磁性材料磁導(dǎo)率測(cè)試，在主機(jī)的基礎(chǔ)上，需選配測(cè)試夾具及磁導(dǎo)率分析軟件，具體配置如下：

  1. 配置

  序號(hào)	型號(hào)	名稱	必選項(xiàng)
  1	TH2851	阻抗分析儀主機(jī)	R
  2	TH26086	測(cè)試夾具底座	R
  3	TH26088	磁導(dǎo)率測(cè)試夾具	R
  4	TH2851磁導(dǎo)率測(cè)試軟件		R
  5	TH26086-CAL	夾具校準(zhǔn)套件	R

  2. 測(cè)試夾具

  1）TH26086轉(zhuǎn)接底座

  

  
  

        用于將4端對(duì)轉(zhuǎn)換成N型7mm底座，適配其他測(cè)試夾具如TH26088磁導(dǎo)率測(cè)試夾具。

        TH26086為必選項(xiàng)，若未選購(gòu)，TH26088將無法正確測(cè)量。

        技術(shù)參數(shù)

  
  

  測(cè)試頻率	DC - 130MHz
  最高電壓	±42V 峰值（AC+DC）
  工作溫度	0°C - 40°C

  
  

  2）TH26088磁導(dǎo)率測(cè)試夾具

  

        TH26088可精確測(cè)量環(huán)形磁性材料的磁導(dǎo)率。由于該夾具的結(jié)構(gòu)是環(huán)形線圈繞一圈（無漏磁），因此不需要繞環(huán)形線圈的導(dǎo)線，而且允許廣泛的頻率覆蓋。 它配有一個(gè)小型和一個(gè)大型夾具，適應(yīng)各種尺寸，是測(cè)量磁性材料的理想結(jié)構(gòu)。

        技術(shù)參數(shù)

  
  

  測(cè)試頻率	1kHz - 1GHz
  樣本尺寸	高度h	內(nèi)徑范圍b（直徑）	外徑范圍c（直徑）
  小型部件用	≤ 3 mm	≥ 3.1 mm	≤ 8 mm
  大型部件用	≤ 8.5 mm	≥ 5 mm	≤ 20 mm

  
  

  3. 測(cè)試原理

  1） 磁導(dǎo)率基本概念

  
  

  

  2） 有效磁導(dǎo)率

       采用電感測(cè)量法測(cè)量，在環(huán)形磁芯的磁芯上纏繞導(dǎo)線，并放置在一個(gè)密閉的圓柱形空間內(nèi)（TH26088夾具），通過阻抗分析儀測(cè)量導(dǎo)線兩端的電感（自感），根據(jù)測(cè)試電感量及下列公式推導(dǎo)出有效磁導(dǎo)率。

  

  3） 相對(duì)導(dǎo)磁率                                                  

  

  4.  磁導(dǎo)率分析軟件（選件）

       選擇開通磁導(dǎo)率分析軟件之后，儀器便可以在單測(cè)、列表掃描、曲線掃描中直接選擇磁導(dǎo)率參數(shù)，直接在界面顯示測(cè)試結(jié)果

  
  

  

  
  

  L.  標(biāo)配附件

  

  M.  選配附件

  

• 應(yīng)用